完全大気圧下での軟X線光電子分光測定に成功 - 東京大学

軟X線光電子分光法は表面深さ1 nm以下で物質や材料表面の化学状態を直接分析することができます。21世紀の放射光（注5）技術の発展により、化学反応下の触媒表面関連キーワードはありません