単一の半導体材料にて正孔と電子の異なる輸送異方性を実証 - 東京大学

X線を用いた物質構造解析手法の一つ。X線を試料の表面に非常に浅い角度（グレージング入射）で照射することで、薄膜材料や表面の分子の並び方、関連キーワードはありません